導致晶振失效的原因分析
來源：http://www.djbyg.com 作者：jinluodz 2013年09月05
晶振沒有內(nèi)在失效機制。有些可以工作數(shù)十年也沒有出現(xiàn)失效。振蕩器失效（超出規(guī)格范圍）有時是以下原因造成：
較差的制作工藝和品質(zhì)控制 。例：焊點松動 、封裝漏氣、材料偶然故障。
1.因老化嚴重且調(diào)整范圍不足，頻偏超出標準范圍。
2.因老化影響，TCXO的頻率溫度特性退化。
3.因溫度設(shè)置點的漂移，OCXO的頻率溫度特性退化。
4.因頻繁的浸漬使振蕩停止、頻偏超出標準范圍、在某些溫度下變成噪音。
5.因使用未清潔的晶片或電路元件參數(shù)選擇不當使在電離輻射時，振蕩停止、頻偏超出標準范圍。
6.因振動引起的噪聲使振蕩器噪聲超標。
7.因表面加工不當，沖擊時使晶片破裂。
較差的制作工藝和品質(zhì)控制 。例：焊點松動 、封裝漏氣、材料偶然故障。
1.因老化嚴重且調(diào)整范圍不足，頻偏超出標準范圍。
2.因老化影響，TCXO的頻率溫度特性退化。
3.因溫度設(shè)置點的漂移，OCXO的頻率溫度特性退化。
4.因頻繁的浸漬使振蕩停止、頻偏超出標準范圍、在某些溫度下變成噪音。
5.因使用未清潔的晶片或電路元件參數(shù)選擇不當使在電離輻射時，振蕩停止、頻偏超出標準范圍。
6.因振動引起的噪聲使振蕩器噪聲超標。
7.因表面加工不當，沖擊時使晶片破裂。
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